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〔販売中古装置情報〕 - 電子部品製造装置(含5インチ以下) - 計測、分析機器 - 分析/観察機器
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TTC ID | メーカー | 型式 | 品名・仕様 | 年式 | 台数 | 対応製品 | |
5ELEanrA9025 | アンリツ | MT9810A | 光テストセット | Inq. | 1 | ||
5ELEanrA9026 | アンリツ | MT9810A | 光テストセット | Inq. | 1 | ||
5ELEhpA9027 | HP | 8594E | スペクトラムアナライザ | Inq. | 1 | ||
* | 5ELEhpL495 | ヒューレット・パッカード | 87510A | 粒子相アナライザ | Inq. | 1 | |
* | 5ELEperC808 | PerkinElmer | AANALYST 200 | 分光計 | Inq. | 1 | |
* | 5ELEperA2904 | パーキンエルマー | SIMAA6000 | 原子吸光分析装置 | Inq. | 1 | |
5INSadvK11985 | アドバンテスト | R3132 | スペクトラムアナライザ | 2001 | 1 | ||
5INSagiQ12676 | アジレント | 7500 series | ICP-MS | Inq. | 1 | ||
5INScamH12802 | Camtek | Falcon 620plus | ウェーハ自動外観検査装置 | 2008 | 1 | ||
5INScmiG12720 | CMIt | SAPPAS -V5-plus | PSS AOI | 2016 | 2 | ||
5INScmiG12721 | CMIt | SAPPAS-V7 | PSS AOI | 2018 | 1 | ||
5INSdinN8274 | 鼎晶 | VM-200 | 精密二次元目視検査装置 | Inq. | 2 | ||
* | 5INSdklR168 | DKL | RU-700 | ディフェクトレビューユニット | 1995 | 1 | |
5INSeikQ8309 | EIKO007/909 | L0011Lamp.115V.PTC | エピメットランプ/125V 250W | Inq. | 20 | ||
* | 5INSeldC526 | ELDIM S.A. | XL88 | コントラスト機 | 2006 | 1 | |
* | 5INShamE4962 | 浜松ホトニクス | C9334-01etc | FFP測定ユニット | Inq. | 1 | |
5INShitQ6855 | 日立 | U-2000 | 分光光度計 | Inq. | 1 | ||
5INShitQ6856 | 日立 | U-2010 | 分光光度計 | Inq. | 1 | ||
5INShitQ6852 | 日立 | Z-5310 | フレーム原子吸光光度計 | Inq. | 1 | ||
5INShitQ6853 | 日立 | Z-5010 | ゼーマン原子吸光光度計 | Inq. | 1 | ||
* | 5INShorR169 | 堀場 | EMAX-5770 | X線分析装置 | 1995 | 1 | |
5INSjaiQ8597 | 日本分析工業 | JHS-100 | パージ&トラップサンプラ | Inq. | 1 | ||
* | 5INSjdsP5183 | JDSU | RM3750 | 反射減衰測定器 | Inq. | 1 | |
5INSkeyQ7586 | キーエンス | CV-X290A | 画像センサ | 2018 | 2 | ||
5INSklaP6171 | KLA / TENCOR | eS32 | ウエハ検査機 | 2007 | 1 | ||
5INSklaA6671 | KLA-Tencor | SFS 7700 | パーティクル検査機 | 1994-1996 | 4 | ||
5INSklaG12723 | KLA | ZETA-300 | 3D顕微鏡 | 2016 | 1 | ||
5INSklaG12724 | KLA | ZETA-200 | 3D顕微鏡 | 2010 | 1 | ||
* | 5INSkonS4414 | コニカミノルタ | CS-2000A | 光学測定器 | 2014 | 1 | |
* | 5INSnewP5186 | ニューポート | 708 8-Channel | Butterfly Fixture | Inq. | 2 | |
5INSnikP12754 | ニコン | NWL-860 | ウェハ検査装置 | Inq. | 1 | ||
5INSnikA6257 | ニコン | OPTISTATION-3A | Wafer Inspection | Inq. | 4 | ||
5INSnikA12606 | ニコン | OST-3-2FM | ウェハ検査装置 | Inq. | 1 | ||
5INSnikA12607 | ニコン | OST-3-2F | ウェハ検査装置 | Inq. | 1 | ||
* | 5INSoxfA4595 | oxford | Aztec X-Max 80T | EDS for TEM(分光) | 2016 | 1 | |
5INSparG11826 | PARMI | 3D-XCEED | 自動光学検査装置 | Inq. | 1 | ||
* | 5INSperP5176 | Perkin Elmer | Lambda 900 | 分光計 | Inq. | 1 | |
5INSperP12620 | パーキンエルマー | PinAAcle 900F | フレーム原子吸光分析装置 | Inq. | 1 | ||
5INSqesG6416 | QES | DIS-8000 | 光学検査システム | 2010 | 1 | ||
5INSrsvP9029 | RSVI Inspection | WS-3800 | ウェハ検査装置 | 2008 | 1 | ||
5INSrudA9992 | ルドルフ | NSX320 | AOI | 2017 | 1 | ||
5INSsecG7721 | SEC | X-EYE 3000A | 分析装置 | 2007 | 1 | ||
* | 5INSseiC807 | セイコー | SEA1000A | 蛍光X線分析装置 | Inq. | 1 | |
5INSshiQ8842 | 島津 | EDX-800HS2 | EDX/X線分析装置 | Inq. | 1 | ||
5INSshiE7667 | 島津 | SMX-100 | X線分析装置 | 2001 | 1 | ||
5INSshiQ9883 | 島津 | UV-2400 | 分光光度計 | inq | 2 | ||
5INSsurL12808 | 駿河精機 | YS-1100 | YAG溶接調芯システム | Inq. | 1 | ||
* | 5INStosS4405 | 東芝ITコントロールシステムズ | TOSMICRON 6130FP | X線装置 | Inq. | 1 | |
5INSwerL6625 | Werth Messtechnik | Scope Check 200 3D CNC | 3D-CNC マルチセンサ CMM | 2002 | 1 | ||
5INSyokQ7519 | 横河電機 | AQ2105 | 光マルチメータ | 1988 | 1 | ||
* | 5OTHinqQ155 | Inq. | LTA-330A | ライフタイム測定器/5in. | Inq. | 1 | |
* | 5OTHmatC909 | マツザワ | MMT-X7A | 微小硬さ試験機 | Inq. | 1 | |
* | 5OTHnikL779 | ニコン | 6D | オートコリメータ | Inq. | 2 | |
* | 5OTHpeaL778 | パール光学 | AC-140F | オートコリメータ | Inq. | 1 | |
* | 5OTHsemR338 | SEMILAB | WT-85 | ライフタイム測定装置 | Inq. | 1 | |
* | 7OTHintS2011 | インターアクション | IA-OPT026W | イメージセンサ向検査用光源 | Inq. | 1 |
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