TTC Trust Technology Corporation

販売中古装置情報 - 半導体製造装置 8インチ -計測、分析機器 - 分析/観察機器

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
* X1AirPMTUA36867 PMS TURBO110 Airborne パーティクルカウンタ/8in. Inq. 1
* X1AirPMTUA36868 PMS TURBO110 Airborne パーティクルカウンタ/8in. Inq. 1
* X1DefDNMIA41138 大日本スクリーン MIS-200 欠陥検査機 Inq. 1
* X1DigOkDPA41766 Okura DP2301 ディジタルプロファイラ Inq. 2
* X1DigOkDPA41767 Okura DP2301A01 ディジタルプロファイラ Inq. 3
* X1e-BKLeSA35909 KLAテンコール eS25 電子ビーム検査/8in. Inq. 1 汎用
* X1ForDiDUA36797 Dimension DUVx210 フォースプロファイラ/8in. Inq. 1
* X1ForVeUVY37270 ビーコ UVX210 フォースプロファイラ/8in. 2001 1
X1LCMDoInY37272 Dong-A Inq. LCM Inspector パターン生成(CAMELEON)/8in. 2008 1
* X1OveBIQ8A41139 BIO-RAD Q8 重ね合わせ測定機 Inq. 1
* X1ParAMExA36656 アプライドマテリアルズ Excite パーティクルカウンタ/8in. Inq. 1
* X1ParAMExA36657 アプライドマテリアルズ Excite パーティクルカウンタ/8in. Inq. 1
* X1RetZYZaA35933 ZYGO Zaris レチクル検査装置/8in. Inq. 1
* X1RouVeD5A35907 ビーコ D5000 粗さ測定/8in. Inq. 1
* X1SteVeUVY37271 ビーコ UVX310 Step Profiler/8in. 2003 1
* X1UV BrBrY37260 ブルックス Bright light 200 UV検査機/8in. 2002 1
* X1WafADAWY37296 ADE AWIS-3110 ウエハ検査機/8in. Inq. 1
* X1WafKOLTY37268 コベルコ LTA-700 Wafer Lifetime Measuring/8in. 1997 1
* X1WafZeAxA35832 Zeiss Axiosprint ウエハ検査機/8in. Inq. 1
* X1XRFThMxA38191 Thermo Scientific Mxr-F 蛍光X線装置 Inq. 1
* X1X-rRiTXY37278 リガク TXRF3750 X線回折装置/8in. 2007 1
* X4C-VKeSYY37668 Keithley/SIGNATONE SYSTEM 83(2430) C-V characterization/8in. 2006 1
* Y1OveTKMAA35510 TKK MAC-92MV1 重ね合わせ測定機/8in. 1996 1
* Y1OveTKMAA35511 TKK MAC-92MV1 重ね合わせ測定機/8in. 1996 1
* Y1OveTKMAA35512 TKK MAC-92MV1 重ね合わせ測定機/8in. 1996 1
* Y1OveTKMAA35513 TKK MAC-92MV1 重ね合わせ測定機/8in. 1996 1
* Y1OveTKMAA35514 TKK MAC-110MV1 重ね合わせ測定機/8in. Inq. 1
* Y1OveTKMAA35515 TKK MAC-110MV1 重ね合わせ測定機/8in. Inq. 1