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販売中古装置情報 - 半導体製造装置 8インチ -計測、分析機器 - (膜厚/抵抗等)計測機器

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
* X1PL_NaSIY37269 ナノメトリクス SIPHER PLマッピング装置/8in. 2002 1
* X1TheSiS-Y37288 Signatone S-1060R-6SND3L Thermal Probe/8in. Inq. 1
* X1ThiNaNAY37254 ナノメトリクス NANOSPEC AFT400 膜厚測定器/8in. 1996-8 1
* X1WafHoE+A36665 Hologenix E+H ウエハ厚さ測定器/8in. Inq. 1