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〔販売中古装置情報〕　- 半導体製造装置 6インチ - 計測、分析機器 - (膜厚/抵抗等)計測機器

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
5MEAadeH9688 ADE 6034 厚み測定器 inq. 1
* 5MEAdnsQ159 大日本スクリーン VL-M6000 膜厚測定器/6in. 1993 1
* 5MEAdnsQ160 大日本スクリーン VL-M6000 膜厚測定器/6in. 1995 1
5MEAhelP9675 HelmutFischer XDL-B 膜厚測定装置 2008 1
5MEAkeyQ10792 キーエンス LS-9500 超高速・高精度寸法測定器 inq 1
5MEAklaG10106 KLA-テンコール 5011 Washing inq 1
5MEAnanH11472 ナノメトリクス NANOSPEC VT-210 膜厚測定機 Inq. 1
5MEAnapH9689 ナプソン RT-70V 抵抗測定装置 inq. 2
5MEAnapP9674 ナプソン RT-70　 抵抗測定装置 1990 1
5MEAysyA10740 Ysystems YWAFER Mapper GS2 PLマッパー/2-4in 2006-2010 2