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販売中古装置情報 - 半導体製造装置 12インチ - 計測、分析機器 - (電気信号等)測定機器

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
* X41MHHP42Y37291 ヒューレット・パッカード 4280A 1MHZ C METER Inq. 1
* X4CapseSSY37267 seojin SSM5200 電圧計 1997 1
* X4CurTeTEP39145 テクトロニクス TEK576 カーブトレーサ Inq. 1 テスター
* X4CurTeTEP39146 テクトロニクス TEK176 カーブトレーサ Inq. 1 テスター
* X4CV Ke82A37670 Keithley 82-WIN Simultaneous C-V CVメータ Inq. 1
* X4HigNRNRW38003 ノダRFテクノロジーズ NR05F10-100M-01 高周波電源 2013 1 電子部品
* X4LCRVoAtY37273 Voltech Ati LCRメーター Inq. 1
* X4NOISIS3Y37286 SILVACO S3245A NOISE AMPLIFIER 2006 1
* X4OscHIVCP39147 日立 VC-6023 オシロスコープ Inq. 1 メモリ
* X4OxiSAMIR36238 三和無線測器 MI-476 酸化膜評価装置 Inq. 1 薄膜組成の分析装置
* X4ParHP41Y37290 ヒューレット・パッカード 4145B パラメータアナライザ 2008 1
* X4ParMS21Y37297 MSP 2110 パーティクルサンプラー Inq. 1
* X4PreHiPCY37293 平山製作所 PC-304R7 (高度)加速寿命試験装置 1998 1
* X4SurMeDEY37298 Met One DE712AF-5 Surface Particle Counter Inq. 1
* X4TDDSAInR37182 三和無線測器 Inq. TDDB評価装置 1996 1 薄膜組成の分析装置
* X4VibBr28Y37299 Bruel & Kijael 2827-002 振動計 Inq. 1