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〔販売中古装置情報〕　- 半導体製造装置 12インチ - 計測、分析機器 - (膜厚/抵抗等)計測機器

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
5MEArevA12131 REVERA RVX1000 X線自動薄膜測定装置 2007 1
* 5MEArudA2901 Rudolph MP300 金属膜厚測定器 Inq. 1
5MEArudA5669 ルドルフ MP300 膜厚測定システム/12in. Inq. 1